确定应力强度因子的光弹性法与焦散线法

张忠平,孙中禹,孙强
(空军工程大学,西安,710038)

摘要:以光弹性法及焦散线法的基本原理为基础，对两种方法在确定应力强度因子方面进行了比较。发现对于纯I型裂纹问题，光弹性法的精度低于焦散线法的精度；对于I-II混合型裂纹问题，就张开型应力强度因子而言，光弹性法的精度低于焦散线法的精度，而就滑移型应力强度因子而言，光弹性法的精度高于焦散线法的精度。
关键词:应力强度因子；光弹性法；焦散线法；比较
中图分类号：O348.1  文献标识码：A